【별표 6의2】가스․증기방폭구조인 전기기기의 일반성능시험(제13조 관련)

번호

구  분

내  용

1

시료

시료는 제7장제1절 및 해당 방폭구조에 대한 성능시험 요건에 따라 시험해야 한다. 다만, 방폭부품에 대하여 이미 시험이 실시되어 검증된 경우에는 해당 시험을 생략할 수 있다.

2

성능시험의 조건

성능시험은 가장 불리한 조건에서 실시한다.

3

시험용 가스

성능시험이 폭발시험용 혼합물을 사용하는 경우에는 해당 방폭구조에서 규정한 폭발시험용 혼합물을 사용한다.

4

용기 및 용기부품의 시험

용기 및 용기부품에 대한 시험은 다음 각 목과 같이 한다.

가. 시험의 순서는 다음 세목과 같이 한다.

1) 금속용기, 용기의 금속제부품 및 용기의 유리부품의 시험은 다음의 순서에 따르며, 각 시험방법에서 규정한 수량의 시료를 사용하여 실시

가) 충격시험(나목 참조)

나) 낙하시험(다목 참조, 해당되는 경우에 한한다)

다) 용기의 보호등급(IP)시험(마목 참조)

라) 제5호부터 제15호에서 규정한 시험(해당되는 경우에 한한다)

마) 해당 방폭구조에 따른 시험

2) 비금속 용기 및 용기부품의 시험은 다음의 어느 하나에 따름

가) 그룹 I 전기기기의 시험은 다음에 따름

(1) 시료 4개에 대하여 다음의 순서로 시험을 실시하되, 2개의 시료는 내열시험(제8호 참조)을 하고 나머지 2개는 내한시험(제9호 참조)을 실시

(가) 내열시험(제8호 참조) 또는 내한시험(제9호 참조)

(나) 충격시험(나목 참조)

(다) 낙하시험(다목 참조, 해당되는 경우에 한한다)

(라) 용기의 보호등급(IP)시험(마목 참조)

(마) 해당 방폭구조에 따른 시험(가장 취약한 1개의 시료에 대하여 실시한다)

(2) (1)에서 정한 시험을 시료 2개에 대한 시험으로 대체하는 경우에는 다음의 순서로 시험을 실시

(가) 내열시험(제8호 참조)

(나) 내한시험(제9호 참조)

(다) 충격시험(나목 참조)

(라) 낙하시험(다목 참조, 해당되는 경우에 한한다)

(마) 용기의 보호등급(IP)시험(마목 참조)

(바) 해당 방폭구조에 따른 시험(가장 취약한 1개의 시료에 대하여 실시한다)

(3) 시료 4개에 대하여 다음의 순서로 시험을 실시하되, 2개의 시료는 제11호나목1)의 규정에 따라 시험을 실시하고 나머지 2개는 제11호나목2)의 규정에 따라 시험을 실시

(가) 오일 및 그리스 또는 광산용 유압유체에 대한 내화학성시험(제11호 참조)

(나) 충격시험(나목 참조)

(다) 낙하시험(다목 참조, 해당되는 경우에 한한다)

(라) 용기의 보호등급(IP)시험(마목 참조)

(마) 해당 방폭구조에 따른 시험

나)그룹 II 전기기기의 시험은 2)가) (1) 또는 (2)에 따라 실시

나. 충격시험은 다음 각 세목과 같이 한다.

1) 충격시험은 표 1의 규정에 따른 낙하높이 h로부터 질량 1kg의 충격 낙하물(25mm 직경의 반구형 강재 충격두를 부착해야 한다)을 낙하시킴

구 분	1kg인 낙하물의 낙하높이(h) (단위:m)
기기분류	그룹 I		그룹 II
기계적 위험	높음	낮음	높음	낮음
1) 용기 및 용기 외부 부속품 (투광성 부품 제외)	2	0.7	0.7	0.4
2) 가드, 보호 덮개, 팬 덮개, 케이블글랜드	2	0.7	0.7	0.4
3) 가드가 설치되지 않은 투광성 부품	0.7	0.4	0.4	0.2
4) 각 가드의 구멍 면적이 (625～2,500)㎟으로된 투광성 부품(별표6 제18호가목 참조, 가드 없이 시험)	0.4	0.2	0.2	0.1

<표 1> 충격시험

2) 매회 시험 전에 충격두 표면이 양호한 상태인지 확인

3) 충격시험은 사용가능한 상태의 시료에 대해 가장 불리한 조건을 선택하여 실시하며, 투광성 부품 등과 같이 완성품에 대하여 실시하기 곤란한 경우에는 해당 부품을 떼어내어 실시하되 해당 몸체 또는 이와 동등한 프레임에 설치하여 실시

4) 유리로 만들어진 투광성 부품의 충격시험은 3개의 시료에 대해 각각 1회씩 실시한다. 그 외의 제품에 대해서는 2개의 시료에 대해 각기 다른 위치에서 2회씩 실시한다. 또한, 유리를 제외한 비금속 용기 및 용기 부품은 제7호나목의 규정에 따라 시료 2개에 대하여 최고온도에서 시험을 실시한 후, 나머지 시료 2개에 대해 최저온도에서 시험을 실시

5) 충격지점은 용기 외부 중 충격에너지에 노출되는 가장 불리한 위치로 한다. 다만, 용기를 별도의 용기로 보호하는 경우에는 외측의 용기에 대하여 충격시험을 실시

6) 시료는 충격이 시료의 표면에 직각방향으로 가해지게 하기 위하여 평평한 철판위에 놓는다. 철판의 중량은 20kg 이상이거나 바닥에 단단하게 고정 또는 삽입할 것  (별표 6의6 참조)

7) 기계적 위험이 낮음에 해당되는 시험을 수행한 경우 인증서 및 전기기기에 별표6 제24호의 규정에 따라 X 기호를 표시할 것

8) 충격시험은 (20 ±5)℃의 주위온도에서 실시한다. 다만, 지정된 주위온도 범위에서 저온측 내충격성이 저하하는 재질데이터가 확보된 경우, 해당 최저온도 보다 (5 ～ 10)℃ 낮은 온도에서 시험을 실시

9) 전기기기가 비금속 재질(회전전기기계의 비금속 팬 후드의 환기스크린을 포함)로 제작된 용기나 용기 부품의 경우, 제7호나목에서 규정한 상위온도와 하위온도에서 시험을 실시

다. 낙하시험은 다음 각 세목과 같이 한다.

1) 나목에 따라 충격시험을 받는 것 이외의 휴대용 전기기기에 대해서는 1m 이상의 높이로부터 콘크리트 면에 4회 낙하시킴

2) 비금속 재질 이외의 재질로 제작되는 용기의 경우, 시험온도는 (20 ±5)℃온도에서 실시한다. 다만, 지정된 주위온도 범위에서 저온측 내충격성이 저하하는 재질데이터가 확보된 경우, 해당 최저온도 보다 (5 ～ 10)℃ 낮은 온도에서 시험을 실시

3) 전기기기가 비금속 재질로 제작된 용기나 용기 부품을 사용할 경우, 제7호나목에서 규정한 상위온도와 하위온도에서 시험을 실시

라. 충격시험 및 낙하시험 결과의 판정은 다음 각 세목과 같이 한다.

1) 충격시험 및 낙하시험에서 전기기기의 방폭성능에 영향을 미치는 결과가 발생하지 않아야 한다. 다만, 도장이 벗겨지는 표면상의 손상, 냉각핀의 파손 또는 경미한 자국 등은 무시

2) 외부 팬 후드와 환기스크린은 회전부품에 마찰을 유발하는 이탈 또는 변형이 발생하지 않을 것

마. 용기의 보호등급시험은 다음 각 세목과 같이 한다.

1) 시험절차와 적용규격은 회전전기기계인 경우, KS C IEC 60034-5, 그 외에는 KS C IEC 60529를 각각 따른다. KS C IEC 60529에 따른 해당 용기에 대한 시험은 다음에 따름

가) 용기는 KS C IEC 60529의 카테고리 1에 속하는 것으로 간주

나) 전기기기는 통전되지 않을 것

다) KS C IEC 60529에서 정한 절연성능시험은 (10 ～ 12)초 동안 [(2Un +1,000) ±10%]V r.m.s.를 인가하여 실시하고, 이때 Un은 기기의 최대 정격 또는 내부 전압을 나나냄

2) 용기의 보호등급에 대한 판정기준은 다음에 따름

가) KS C IEC 60529에 따라 전기기기를 시험하는 경우, 판정기준은 KS C IEC 60529를 따름

나) 회전전기기계에 대하여 해당 방폭구조에 따라 추가적으로 정상 작동요건과 관련이 있는 경우, KS C IEC 60034-5의 판정기준을 적용할 것

다) KS C IEC 60034-5에 따라 판정기준을 적용할 경우, 모든 분진은 도전성이 있는 것으로 간주

5

온도시험

가. 최고표면온도의 측정은 다음 각 세목과 같이 한다.

1) 전기기기의 정격에 대해 온도시험을 실시하되, 정격전압의 (90 ～ 110)%의 전압 중 가장 불리한 공급전압과 조건에서 실시해야 한다. 온도시험에서 측정된 최고표면온도는 다음에서 정한 값을 초과하지 않을 것

가) 그룹 I 전기기기의 경우, 별표 6 제2호다목2)가)에서 규정한 값

나) 그룹 II 전기기기로서 확인시험을 실시하는 경우, 전기기기에 표시된 온도 또는 온도등급

다) 그룹 II 전기기기로서 성능시험을 실시하는 경우, 전기기기에 표시된 온도 또는 온도등급. 다만, 온도등급 T6, T5, T4 및 T3의 방폭기기(표시온도가 200℃ 이하인 기기를 포함한다)의 경우에는 5℃ 낮은 값, 온도등급 T2와 T1의 방폭기기(표시온도가 200℃를 초과하는 기기를 포함한다)의 경우에는 10℃ 낮은 값

2) 시험결과는 최고주위온도에 대하여 보정이 될 것

3) 해당 방폭구조에 따른 온도측정은 전기기기가 정상적인 부착된 상태에서 공기의 흐름이 없는 상태에서 실시

4) 여러 가지 형태의 설치상태로 사용될 수 있는 전기기기의 경우, 각 설치상태에서의 온도를 측정하여 가장 높은 측정온도를 취해야 한다. 온도가 어떤 특정 설치상태에서 측정된 것일 경우, 시험성적서에 이러한 사항이 명시되어야 하며 전기기기에는  X 기호를 표시하거나 경고표시를 할 것

5) 온도측정장치(온도계, 열전대 등) 및 접속전선은 전기기기의 발열 및 냉각에 영향을 끼치지 않도록 설치될 것

6) 최종온도란 온도상승률이 시간당 2℃를 초과하지 않을 때 측정한 온도를 말함

7) 비금속 재질의 용기 또는 부품은 가장 높은 온도가 형성되는 지점을 측정할 것

나. 조명기구의 유리부품 및 전기기기의 투시창은 최고작동온도 상태에서 온도 (10 ±5)℃, 직경 1mm의 물을 분사하는 열충격시험에서 파손되지 않아야 한다.

6

토크시험

접속설비에 사용되고 도체의 접속 또는 분리 시 토크를 받는 부싱은 토크시험을 실시한다. 부싱 내부의 스템 또는 부싱은 그 스템이 표 2에서 규정한 토크 값을 적용할 때 회전되지 않아야 한다.

<표 2> 접속설비에 사용된 부싱의 스템에 적용하는 토크

부싱 스템의 직경	토크 (Nm)
M4	2.0
M5	3.2
M6	5
M8	10
M10	16
M12	25
M16	50
M20	85
M24	130
비고. 상기에 직경 이외의 크기에 대한 토크 값은 이들 값을 사용하여 작성된 그래프로부터 결정될 수 있고, 상기의 직경보다 큰 부싱에 대해서도 외삽법에 의하여 토크 값을 결정할 수 있음

7

비금속용기 및 용기부품의 시험

가. 비금속 용기 및 용기부품은 제1호부터 제6호까지의 규정에 따른 시험 이외에, 해당되는 경우, 제8호부터 제15호까지의 규정에 따른 요건에 적합해야 한다.

나. 제7장제1절제1관과 해당 방폭구조의 요건에 따라 허용되는 최고 또는 최저 작동온도에 대하여 시험을 실시하는 경우, 작동온도는 다음 각 세목과 같이 한다.

1) 상위 온도의 경우, 운전중 최고작동온도 보다 10℃ 높은 온도(최대 15℃)

2) 하위 온도의 경우, 운전중 최저작동온도 보다 5℃ 낮은 온도(최대 10℃)

8

내열시험

가. 비금속 용기 또는 용기부품의 내열시험은 (90 ±5)%의 상대습도 및 최고작동온도 보다 (20 ±2)℃ 높은 온도(최저 80℃)로 4주간 실시한다.

나. 75℃ 이상의 최고작동온도를 갖는 기기의 경우, 상대습도 (90 ±5)% 및 (95 ±2)℃ 온도에서 2주간 유지한 후 최고사용온도 보다 (20 ±2)℃높은 온도에서 2주간 견디는 시험으로 실시한다.

9

내한시험

내한시험은 방폭구조에 영향을 미치는 비금속 용기 및 용기 부품을 제7호나목의 규정에 따라 감소된 최저작동온도에서 24시간 동안 유지하는 방법으로 하며, 유리 및 세라믹 재료는 내한시험에 영향을 받지 않는 것으로 보아, 내한시험을 수행하지 않을 수 있다.

10

내광시험

가. 비금속 용기 및 용기 부품에 대해 빛 노출에 대한 보호장치를 설치하지 않는 경우, 내광시험을 실시하며, 그룹 I 전기기기는 조명기구에 한하여 실시한다. 기기 설치 시에 직사광선 또는 조명기구 등의 빛에 따른 영향이 없어 내광시험을 실시하지 않을 경우, 별표6 제24호나목의 규정에 따라 기기에 X 기호를 표시해서 특별한 사용조건을 나타내야 하며, 유리 및 세라믹 재료는 내광시험에 영향을 받지 않는 것으로 보아, 내광시험을 수행하지 않을 수 있다.

나. 빛에 노출될 수 있는 용기 및 용기부품에 대한 내광시험은 다음 각 세목과 같이 한다.

1) 시험은 KS M ISO 179에 따라 (50 × 6 × 4)mm의 6개 시편에 대하여 실시해야 한다. 시험봉은 관련 용기 제조에 사용되는 것과 같은 조건하에서 만들어진 것을 사용하고, 시험조건은 시험성적서에 명시할 것

2) 흑판의 온도는 (55 ±3)℃로 하고, 크세논램프와 일광 모의필터설비를 사용한 노출챔버에서 KS M ISO 4892-1에 따라 시험을 실시한다. 노출시간은 1,000h로 함

3) 비금속 재료의 특성상 KS M ISO 179에 따라 시료를 준비하는 것이 어려울 경우, 동등이상의 결과를 얻을 수 있는 다른 시험을 실시할 수 있다. 이 경우, 전기기기의 시험성적서에 그 근거를 명시할 것

다. 내광시험 후 KS M ISO 179에 따른 충격 굽힘력을 측정하여 노출후의 충격 굽힘력이 노출되지 않은 시편에서의 측정값을 기준으로 100분의 50 이상이어야 한다.

11

내화학성

시험

그룹 I 전기기기에 대한 내화학성은 다음 각 목과 같이 한다.

가. 비금속 용기 및 용기의 비금속 부품은 오일 및 그리스 또는 광산용 압력액 등에 대하여 내화학성시험을 하여야 한다.

나. 시험액체가 내부로 침투하지 않도록 밀봉된 4개의 용기시료에 대하여 다음 각 세목에 따라 실시해야 한다.

1) 2개의 시료는 (50 ±2)℃의 온도에서 KS M ISO 1817의 부속서 "시험액체"에 따르는 No.2 오일에 (24 ±2)시간 동안 유지할 것

2) 나머지 시료 2개는 (-20 ～ +60)℃ 온도에서 작동하는 내화액체에 (24 ±2)시간동안 유지해야 하며, 내화액체는 (50 ±2)℃ 온도에서 수분함유율 100분의 35로 된 고분자액체로 할 것

다. 시험 종료시 용기 시료는 액체조로부터 제거하고 깨끗하게 닦은 다음 시험소 환경에서 (24 ±2)시간 동안 저장한다. 그 후 각 용기 시료는 제4호의 규정에 따른 충격시험에서 이상이 없어야 한다.

라. 1개 이상의 용기 시료가 한 가지 이상의 화학물질에 노출된 이후 충격시험에 견디지 못할 경우, 별표6 제24호나목의 규정에 따라 기기에 X 기호를 표시해서 사용 중 특정 화학물질에 노출시키지 않아야 한다는 조건을 나타내야 한다.

12

접지연속성

접지연속성에 대한 시험은 다음 각 목에 따라 실시하며 적합하여야 하며, 용기재료 시험 시 전체 용기 또는 용기의 일부를 사용해 시험할 수 있고, 시편을 사용해서 시험할 수도 있다. 다만, 이 시편의 주요치수가 용기의 주요치수와 같아야 한다.

가. 케이블글랜드를 대신해서 KS M IEC 60423에 따라 허용공차가 6g이고 피치가 1.5mm인 ISO 미터법 나사산이 나있고 황동(CuZn39Pb3)으로 만든 공칭지름이 20mm인 시험막대를 사용한다. 이 시험막대는 그림 1과 같이 조립된 상태에서 양쪽 끝에 1개 이상의 나사산의 여유를 갖도록 한다.

나. 접지연속성시험은 용기와 함께 사용될 전체 접지판 또는 접지판의 일부를 사용하여 실시한다.

다. 시료의 구멍은 지름이 (22～23)mm로 하며, 시험막대의 나사산이 구멍의 안쪽과 직접 닿지 않도록 조립한다.

라. 조임용 너트는 황동(CuZn39Pb3 또는 CuZn38Pb4)으로 제작하고, KS C IEC 60423에 따라 허용공차가 6H이고 피치가 1.5mm인 ISO 미터법 나사산이 나있어야 한다. 너트의 공칭두께는 3mm로 한다.

마. 부품을 그림 1과 같이 조립하고 각 쌍의 너트에 10Nm(±10%)의 토크를 가한다.

바. 시료의 용기벽 또는 용기벽의 일부에 나있는 구멍은 평평한 관통 구멍이거나 나사산이 나 있는 구멍으로서 시험막대에 적합한 나사산을 형성해야 한다.

사. 시료를 조립하고 난 이후 실시한 제8호에 따른 내열시험에 적합해야 하며, 80℃의 공기 오븐에서 14일 동안 더 유지한다.

아. 사목의 시험이 끝나면, (10～20)A의 직류를 접지판 사이에 통과시키고, 전압 강하를 측정해서 접지판 또는 접지판 부품 사이의 저항을 구한다.

자. 비금속 재료를 시험했을 때 접지판 또는 접지판 부품 사이의 저항이 5×10-3Ω을 초과하지 않으면 합격으로 본다.

1. 너트   2. 접지판   3. 용기벽(비금속)    4. 접지판 또는 접지판 부품

5. 시험 막대

[그림 1] 접지연속성시험을 위한 시료

13

절연저항

시험

비금속 재질의 용기 및 용기부품에 대한 절연저항시험은 다음 각 목과 같이 한다.

가. 용기부품의 크기가 절연저항을 측정할 수 있을 경우, 절연저항시험은 해당 부품에 대해 실시하고, 그렇지 않을 경우에는 그림 2에 따라 표면의 절연저항에 영향을 주지 않는 도전성 페인트를 도포한 2개의 평행 전극에 대하여 실시한다.

나. 시편은 증류수로 닦고 이소프로필알콜(또는 물과 섞일 수 있고 또한 시편의 재료와 전극에 영향을 주지 않는 기타 용제)로 세정한 다음 건조되기 전에 한 번 더 증류수로 세정한다. 맨손이 접촉되지 않도록 하여 시편을 별표6 제4호다목의 규정에 따른 온도와 습도에서 24시간 동안 안정시킨다.

다. 전극 간에 (500 ±10)V의 직류 전압을 1분간 인가한다.

라. 시험 중 전압은 전압변동으로 인한 충전전류가 시편에 흐르는 전류와 비교하여 무시될 수 있을 정도로 충분히 안정되게 유지한다.

마. 절연 저항의 값은 직류전압을 1분간 인가하였을 때, 전극간에 흐르는 전류에 대한 전극 간에 인가한 직류전압의 비율로 한다.

단위 mm

[그림 2] 도전성 페인트를 도포한 시편

14

정전기 대전시험

정전기 대전시험은 다음 각 목과 같이 한다.

가. 정전기 대전시험은 장비 제조에 쓰인 비금속 부품 자체로 실시하거나, 전하분포밀도의 견지에서 최적의 표면적인 22,500㎟ 크기의 평판 시료를 사용해 실시한다. 시험결과에 영향을 미치는 요소인 습도는 정전기 누출을 최소화하기 위해서 (23 ±2)℃에서 상대습도 100분의 30 이하로 유지한다. 단일 불꽃을 발생시키는 불꽃방전 전극의 크기에 따라 각기 다른 방전을 일으키므로 전극의 크기는 반지름이 (10～15)mm인 구형의 전극을 사용해서 단일 불꽃을 발생시켜야 한다.

나. 대전시험의 일반적인 원칙은 다음 각 세목과 같이 한다.

1) 대전시험은 실제 시료를 사용하여 실시하거나, 크기 및 형태 때문에 실제 시료를 사용하기 어려운 경우, (150 × 150 × 6)mm 크기의 평판 시료를 (23 ±2)℃ 온도와 상대습도 30% 이하에서 24시간 동안 유지

2) 다음의 어느 하나에 따른 방법으로 시료표면에 대전시킴

가) 폴리아미드 계통의 천으로 표면을 문지르는 방법

나) 면으로 된 천 조각으로 표면을 문지르는 방법

다) 고전압 스프레이 전극에 표면을 노출시키는 방법

3) 2)의 각 시험방법에 따라 대전완료 후 표면방전을 통해서 전하량(Q)을 측정한다. 전하량은 반지름이 (10～15)mm인 구형의 전극을 통해 정해진 값을 가진 축전지(C)로 시료를 방전시키고, 이때 흐르는 전압을 측정한다. 전하량 공식 Q = CV로 구하고, 이때 C는 정해진 값을 갖는 정전 용량(F)이고, V는 최고전압

4) 시험 중 저장된 전하량이 전반적으로 감소하는 경향을 나타낼 경우, 다음 시험에는 새로운 시료를 사용해야 한다. 사목에 따라 평가할 때는 최고값을 사용

5) 시험에서 사람의 발한작용에 의해 영향을 받는 경우, 전송전하가 60nC 이상인 PTFE 표준물질로 교정할 것

다. 시료는 완제품을 사용하거나, 크기나 형태 때문에 완제품을 사용하기 어려운 경우에는 (150 × 150 × 6)mm 크기의 비전도 평판 시료를 사용한다. 대전시험에 사용되는 시험기기의 구성은 다음 각 세목과 같이 한다.

1) 30kV 이상의 전압을 인가할 수 있는 직류 고전압전원

2) 측정 정확도가 ±10% 이내이고 입력저항이 109Ω보다 큰 정전압계(0V～10V)

3) 최소 400V용 0.10μF 축전기 (전압계 입력저항이 1010Ω보다 클 때는 0.01μF도 적합하다)

4) 문지르는 동안 시편과 시험자의 손가락이 서로 닿지 않을 정도 크기의 면으로된 천 조각

5) 문지르는 동안 시편과 시험자의 손가락이 서로 닿지 않을 정도 크기의 폴리아미드로 된 천 조각

6) 대전된 표면을 방전시키지 않고 시편을 움직일 수 있는 PTFE 손잡이 또는 집게

7) 면적이 22,500㎟인 PTFE 평판 디스크

8) 접지판

라. 시험은 온도가 (23 ±2)℃이고 상대습도가 100분의 30 이하인 공간에서 실시한다.

마. 시편을 이소프로필알코올로 세척하고, 증류수로 헹군 후에 50℃ 이하의 건조오븐 등의 방법으로 건조시킨 후 시편을 (23 ±2)℃에서 24시간 보관한다.

바. 대전방법은 다음 각 세목의 어느 하나와 같이 한다.

1) A형 방법의 경우, 그림 3과 같이 시험면이 위로 향하도록 시료를 절연판 위에 놓고, 폴리아미드 천으로 표면을 10회 문지른다. 마지막 문지르는 동작을 시료 가장자리에서 끝낸다. 방전이 일어날 때까지 구형의 전극을 천천히 시료로 가져가서 0.1μF 또는 0.01μF 축전지로 방전시키고, 시료에서 구형의 전극을 제거한 직후에 전압계로 전압을 측정한다. 표면전하는 Q = CV의 공식(V는 t=0일 때 축전기의 전압으로 한다)에 따라 구한다. 이 시험을 10회 반복

2) B형 방법의 경우, 폴리아미드 천 대신에 면으로 된 천을 사용해서 가목에 따른 순서로 시험한다. 시험을 10회 반복한다. 사목에 따라 평가할 때는 최고값을 사용

3) C형 방법의 경우, 분사 전극을 노출면 중앙에서 30mm 떨어진 시편 위에 놓고, 음극과 지면 사이에 최소 30kV의 전압으로 시편을 대전시킨다. 전체 면을 대전시키고 가목에 따라 시편을 방전시키기 위해 1분 동안 시편을 움직인다. 시험을 10회 반복한다. 사목에 따라 평가할 때는 최고값을 사용

사. 방전 평가는 기준 재료의 전송전하가 60nC보다 크다면, 비전도재질인 용기의 최대전송전하 Q는 다음 값보다 작아야 한다.

가)그룹 I 또는 IIA 전기기기 : 60nC

나)그룹 IIB 전기기기 : 30nC

다)그룹 IIC 전기기기 : 10nC

1. A면   2. PTFE 손잡이   3. B면   4. PTFE

[그림 3] 순수 나일론 천으로 문지르기

1. 대전된 용기  2. PTFE 손잡이  3. 구형 ø15mm 4. 전압계 5. CM = 0.1μF

[그림 4] 0.1μF 축전지를 통해 접지된 전극으로  용기 방전

1. 대전 바늘   2. A면   3. B면   4. 도전면(황동)

[그림 5]  직류 전압 전원 공급기로 대전

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정전용량

측정시험

정전용량의 측정은 다음 각 목과 같이 한다.

가. 시험절차는 다음 각 세목과 같이 한다.

1) 정전용량 측정시험은 2개의 완전 조립된 전기기기의 시료를 사용

2) 시료를 온도 (20 ±2)℃, 상대습도가 (30～50)%인 챔버에 넣고 최소 1시간 동안 유지한다. 크기가 약 (90 × 160 × 3)mm이고 접지된 금속판에 시험 시료를 올려놓음

3) 전기기기의 노출된 금속부위 사이의 정전용량을 (0～200)pF 범위에서 측정하며, 정확도는 ±5%로 한다. 연결 리드선은 가능한 짧아야 하며, 최대 1m 이하이어야 한다. 노출된 금속 부위가 없을 때는 가장 불리한 조건이라고 생각되는 곳에 나사를 삽입하여 시험지점을 만든다. 전기기기는 가장 불리한 조건이라고 생각되는 위치에 둠

나. 최대 정전용량은 다음 각 세목에 따른 값 이하이어야 한다.

1)그룹 I 전기기기 : 50pF

2)그룹 IIA 전기기기 : 50pF

3)그룹 IIB 전기기기 : 15pF

4)그룹 IIC 전기기기 : 5pF