【판시사항】

명칭이 “반도체디바이스 시험장치”인 특허발명은 그 기본적인 구성과 작동과정이 같고, 다만 이를 이루는 각 구성의 배치에서만 차이가 있는 비교대상발명 2에 비교대상발명 3을 결합하여 쉽게 발명할 수 있어 진보성이 부정된다고 한 사례

【참조조문】

특허법 제29조 제2항

【전문】

【원고, 피상고인】

주식회사 테크윙 (소송대리인 특허법인 다래 담당변리사 곽동효외 6인)

【피고, 상고인】

가부시키가이샤 아드반테스트 (소송대리인 변호사 손지열)

【원심판결】

특허법원 2007. 1. 18. 선고 2006허3281 판결

【주 문】

상고를 기각한다. 상고비용은 피고가 부담한다.

【이 유】

상고이유(상고이유서 제출기간 경과 후에 제출된 상고이유보충서는 상고이유를 보충하는 범위 내에서)를 판단한다.
기록에 비추어 살펴보면, 명칭을 “반도체디바이스 시험장치”로 하는 이 사건 특허발명(특허번호 제292831호)은 원심 판시 비교대상발명 2와 그 기본적인 구성과 작동과정은 같고, 다만 반도체디바이스 시험장치를 이루는 로우더부, 항온조, 테스트챔버, 제열조, 언로우더부의 배치에서 차이가 있으며, 그에 따라 비교대상발명 2에는 이 사건 특허발명의 ‘항온조와 제열조가 평면도에서 서로 90도 다른 방향으로 개구된 테스트트레이 삽입구 및 도출구를 가지는 구성’이 없는 차이가 있으나, 그 중 ‘테스트트레이를 삽입구와 90도 다른 방향으로 도출하는 구성’은 주지관용기술이거나, 비교대상발명 2를 이루는 각 구성의 배치를 변경함에 따라 부수적으로 도출되는 구성에 지나지 않는다.
한편, 이 사건 특허발명과 비교대상발명 2는 이를 이루는 각 구성의 배치에서, 이 사건 특허발명은 테스트트레이의 반송경로를 2열로 구성하되, 항온조, 테스트챔버 및 제열조에 이르는 1열의 테스트트레이의 반송경로는 테스트트레이의 길이방향 치수의 3배 정도가 되도록 하고, 위 1열의 바로 앞쪽에 나란히 다른 1열로 로우더부, 언로우더부를 설치한 반면에, 비교대상발명 2는 테스트트레이의 반송경로를 1열로 구성하되, 항온조와 제열조의 사이면서 테스트챔버의 위쪽인 부분에 로우더부와 언로우더부를 설치함으로써, 그 횡폭은 테스트트레이의 길이방향 치수의 5배 정도이고, 그 종폭은 1열이어서 이 사건 특허발명이 비교대상발명 2보다 횡폭은 짧은 반면에 종폭은 긴 차이가 있으나, 그 설치장소 내에서 반도체디바이스 시험장치가 차지하는 전체적인 면적에서는 큰 차이가 없을 뿐만 아니라, 원심 판시 비교대상발명 3에는 반도체디바이스 시험장치의 횡폭을 이 사건 특허발명과 같이 테스트트레이 길이방향 치수의 3배 정도로 한 구성이 나와 있어, 이 사건 특허발명의 위와 같은 배치는 통상의 기술자가 반도체디바이스 시험장치가 설치되는 장소와 그 테스트챔버의 개수 등을 고려하여 쉽게 선택할 수 있는 구성의 변경에 지나지 않는다고 할 것이다.
따라서 이 사건 특허발명은 그 기본적인 구성과 작동과정은 같고, 다만 이를 이루는 각 구성의 배치에서만 차이가 있는 비교대상발명 2에 비교대상발명 3을 결합하여 쉽게 발명할 수 있어 진보성이 부정된다고 할 것이므로, 같은 취지로 판단한 원심판결은 정당하고, 거기에 상고이유에서 주장하는 바와 같은 특허발명의 진보성 판단에 관한 법리오해, 심리미진 및 이유불비 등의 잘못이 없다. 피고가 상고이유로 내세우는 주장은 위와 다른 견지에서 원심을 비난하는 것이어서 받아들일 수 없다.
그러므로 상고를 기각하기로 하여, 관여 대법관의 일치된 의견으로 주문과 같이 판결한다.